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432.25威卡超高纯压力表 HUP-FLOW-THROUGH 半导体专用压力表
432.25压力表参数说明
标准尺寸:2"
准确度等级:G Grade B,符合ASME B40.1标准 可按要求提供准确度等级更高的仪表
量程
-0.14 MPa / -30英寸汞柱… 60 psi
-0.19 MPa / -30英寸汞柱… 130 psi
工作温度
环境温度:-10 … +60℃
介质温度:***大为+60℃
压力接口
可提供全UHP接口
压力元件:铬镍铁合金
表盘:铝质、白色,黑色/红色印字,双压力刻度 (bar/psi)
指针:铝质、黑色
外壳:材料:316L不锈钢,电抛光
仪表窗:聚碳酸酯,一体式螺纹旋盖设计
432.25威卡超纯压力表功能特性
压力表中无死体积
内部体积小,可减少颗粒的产生和截留
氦泄漏试验,泄漏率≤ 10-9 mbar • l/s
内部和外壳均经过电抛光处理,内表面粗糙度Ra ≤ 0.25 µm
可提供各种高纯压力接口
432.25威卡超纯压力表主要应用
适用于气体、液体和腐蚀性介质以及腐蚀性环境中,满足高纯度应用的严苛要求
半导体和平板显示屏产业
气体输配系统
医用气体
连接应用
432.25压力表参数说明
标准尺寸:2"
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表盘:铝质、白色,黑色/红色印字,双压力刻度 (bar/psi)
指针:铝质、黑色
外壳:材料:316L不锈钢,电抛光
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432.25威卡超纯压力表功能特性
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内部体积小,可减少颗粒的产生和截留
氦泄漏试验,泄漏率≤ 10-9 mbar • l/s
内部和外壳均经过电抛光处理,内表面粗糙度Ra ≤ 0.25 µm
可提供各种高纯压力接口
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适用于气体、液体和腐蚀性介质以及腐蚀性环境中,满足高纯度应用的严苛要求
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